Capability
이프가 제공하는 가치
AI 외관 검사 (AI-AOI)
비정형 외관 결함과 텍스처 결함을 AI 추론으로 분류·검출하여 룰 기반 과검·미검을 줄입니다.
AI OCR / 손상 글자 인식
칼집·이물 등으로 글자가 손상된 상황에서도 학습 기반 AI OCR로 안정적인 식별을 보장합니다.
AI Detection / 이상 탐지
오염·가공·관리 상태에 따른 변동이 큰 제품을 학습으로 추적, 양품/불량 패턴을 일반화합니다.
딥러닝 + 룰 하이브리드
정형 결함은 룰, 비정형 결함은 딥러닝 — 검사 항목별 최적 조합으로 검출 신뢰도를 끌어올립니다.
MLOps 파이프라인
데이터 수집 · 라벨링 · 학습 · 배포 · 재학습까지의 모델 운영 흐름을 표준화한 자체 파이프라인.
양산 검증 사례
PCBA 실장·디스플레이 마스크·이차전지 외관·MLCC 6면 등 다수 양산 라인에서 적용·검증.
Business
이프의 사업 구조
한 키워드로 시작하셨더라도, 이프는 SI 시스템 개발·IFOps 플랫폼·검사·물류 장비 세 축으로 끝까지 책임집니다.
Let's Build Together비전 검사 시스템 도입,
비전 검사 시스템 도입,
이프와 함께 시작하세요.
제품·공정·물량에 맞춰 최적의 검사기 구성을 제안해 드립니다. 요구사항만 알려주시면 빠르게 회신드리겠습니다.