(주)이프 IF 로고 · AI 비전검사 · 머신비전 시스템주식회사이프Intelligent Factory
Surface · Defect Inspection

외관 검사

이물·스크래치·찍힘·핀홀 등 표면 결함을 광학과 알고리즘 조합으로 검출.

Cases

외관 검사 적용 사례

디스플레이surface

16K 라인스캔 마스크 외관 검사

16K 라인스캔으로 250K × 250K 대면적 이미지를 고속 검사. 상/하부 이물·홀 오픈/쇼트 검출.

  • 대면적 고속 검사
  • 이물·오픈·쇼트
  • 라인스캔 광학
Image Reserved
16K 라인스캔 마스크 외관 검사
디스플레이surface

LED 리드프레임 외관 검사 (>50um)

결함별 광학(조명·라인스캔 사양)을 활용한 종합 외관 검사. 몰드/메탈 스크래치·흑점 검출.

  • 몰드/메탈 스크래치
  • 흑점 검출
  • >50μm 결함
Image Reserved
LED 리드프레임 외관 검사 (>50um)
이차전지surface

원통형 셀 사이드 외관 검사

사이드 롤러 위 회전 라인스캔으로 캔/튜빙 외관 결함을 검출.

  • 회전 라인스캔
  • 캔·튜빙 외관
  • 양산 라인 적용
Image Reserved
원통형 셀 사이드 외관 검사
이차전지surface

차량용 배터리 단자 외관 검사

광학계를 72° 간격 5개 배치, 대각 촬상 + AI 실시간 인식으로 쇼트·크랙 200μm 이상 검출.

  • 72° × 5축 광학
  • AI 실시간 인식
  • >200μm 검출
Image Reserved
차량용 배터리 단자 외관 검사
이차전지weld

AI 용접 비드 형상 검사

용접 비드의 위치·개수·면적·폭·끊어짐을 AI 외관 검사로 종합 검출.

  • 비드 형상 분석
  • 끊어짐·핀홀
  • AI 검출
Image Reserved
AI 용접 비드 형상 검사
이차전지weld

용접 후 빛샘 검사

용접 후 내부 조명을 통해 외부 용접부 빛샘으로 용접 품질을 판단.

  • 빛샘 광학
  • 용접 품질
  • 비파괴 방식
Image Reserved
용접 후 빛샘 검사
Let's Build Together

비전 검사 시스템 도입,
이프와 함께 시작하세요.

제품·공정·물량에 맞춰 최적의 검사기 구성을 제안해 드립니다. 요구사항만 알려주시면 빠르게 회신드리겠습니다.