SI · System Development비전과 제어를
비전과 제어를
하나의 시스템 SW로 통합합니다
이프의 SI 시스템 개발은 비전 시스템 SW와 제어 시스템 SW, 두 영역을 한 팀에서 직접 개발하여 검사 라인의 SW 품질을 일관되게 책임집니다.
Vision System
비전 시스템 개발 및 공급
광학계 설계
산업용 카메라·렌즈·조명·필터를 결함 특성에 맞춰 직접 설계합니다. 라인스캔/에리어 모두 대응.
비전 검사 SW
이프 자체 비전 엔진 위에서 룰 기반·딥러닝·OCR/BCR을 검사 항목에 따라 조합해 구현합니다.
Control System
제어 시스템 개발 및 공급
물류 기구 및 전장 설계
장비 프레임·치공구·물류 동선·전장 박스·배선 도면까지 — 검사 라인의 물리적 토대를 직접 설계합니다.
PC 제어 SW
장비 운영 SW, 시퀀스, HMI, 데이터 수집까지의 PC 단 제어 소프트웨어를 직접 개발합니다.
Workflow
SI 시스템 개발이 진행되는 방식
- 01고객사 니즈 분석
공정 시간·검사 항목·물류 흐름·환경 조건을 면밀히 진단합니다.
- 02광학·알고리즘 설계
광학계와 비전 알고리즘 설계를 동시에 수행해 검사 셋업을 단축합니다.
- 03SW 통합 개발
비전 검사 SW와 제어 SW를 같은 팀이 통합 개발합니다.
- 04현장 셋업·운영
양산 라인에 직접 들어가 시운전·튜닝·운영 인계까지 수행합니다.
Let's Build Together비전 검사 시스템 도입,
비전 검사 시스템 도입,
이프와 함께 시작하세요.
제품·공정·물량에 맞춰 최적의 검사기 구성을 제안해 드립니다. 요구사항만 알려주시면 빠르게 회신드리겠습니다.