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이프/이프비전_제덱트레이 디바이스 외관 검사 및 핸들러 시스템

(주)이프·2021. 12. 4.·읽는 데 3분
이프/이프비전_제덱트레이 디바이스 외관 검사 및 핸들러 시스템

로딩된 LOT 에서 각 제덱트레이(JEDEC Tray)를 비전 검사부에 로딩하고, X/Y 축이 이동하며 트레이에 안착된 디바이스의 불량을 검출하는 외관 검사 및 핸들러 시스템 적용 사례입니다.

1. 개요

  • PC 제어 : 17축을 통한 각 포지션 제어 (로딩 · 언로딩 · 비전 플라잉 검사)
  • 머신비전 : 제덱트레이에 안착된 디바이스 유무 · 리버스 · 안착 불량(틸팅) 검사

2. 광학 구성

항목구성
카메라5M / GigE / Global Shutter / Mono
렌즈Telecentric 0.125x
조명링조명 (White / High Angle)

3. 개발 환경

  • 개발 언어 : C# / WinForm 기반
  • 주요 알고리즘 : Histogram, GV Mean 추출, Template Matching, Find Contour 등

4. UI

메인 화면 : 장비 상태와 시퀀스, 트레이 진행 표시
메인 화면 : 장비 상태와 시퀀스, 트레이 진행 표시
비전 설정 화면 : 검사 영역 · 파라미터 · 트레이 맵 설정
비전 설정 화면 : 검사 영역 · 파라미터 · 트레이 맵 설정

5. 검사 이미지

검사 결과 : 트레이 맵에 불량 위치를 빨간색으로 표시하고 결과 이미지를 함께 표시
검사 결과 : 트레이 맵에 불량 위치를 빨간색으로 표시하고 결과 이미지를 함께 표시
정상 안착 디바이스 판정(OK)
정상 안착 디바이스 판정(OK)
다른 디바이스 유형의 정상 판정(OK)
다른 디바이스 유형의 정상 판정(OK)
디바이스 틸팅(안착 불량) 검출
디바이스 틸팅(안착 불량) 검출
#제덱트레이검사#트레이검사#디바이스외관검사#핸들러#플라잉비전#안착불량검사#PC제어#머신비전

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